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キーワード: 無線周波, Hochfrequenz, HF, "radio frequency", RF

• 2018, Klimanov MY, Syvak LA, Orel VE, Lavryk GV, Tarasenko TY, Orel VB, Rykhalskyi AY, Stegnii VV, Nesterenko AO
  [乳がんから肝臓への複数の転移がある患者における局部的な中程度のハイパーサーミアと化学療法の組合せの効能] [med. app.]
  Technol Cancer Res Treat 17: 1533033818806003
• 2018, El Amrani L, Mazri T, Hmina N
  [電離及び非電離放射線ばく露によりヒト臓器に誘導される比吸収率] [tech./dosim.]
  2018 6th International Conference on Wireless Networks and Mobile Communications (WINCOM), Marrakesh, Morocco. IEEE: pp. 1-4; ISBN 978-1-5386-7331-7
• 2018, Mutz J, Edgcumbe DR, Brunoni AR, Fu CHY
  [詳細] [成人の単極性及び双極性抑うつの治療のための非侵襲性脳刺激の効能及び受容可能性：無作為化擬似対照試験の系統的レビュー及びメタ分析] [review]
  Neurosci Biobehav Rev 92: 291-303
• 2018, Fitzgerald PB, Hoy KE, Elliot D, Susan McQueen RN, Wambeek LE, Daskalakis ZJ
  [抑うつの治療における加速反復的経頭蓋磁気刺激] [med. app.]
  Neuropsychopharmacology 43 (7): 1565-1572
• 2018, Diao Y, Li M, Sun W, Leung SW, Cai Y, Zhu F, Yang Y
  [新規のワイヤレス技術に対する安全性の検討‐10 GHzまでのRF放射に対する眼部の温度上昇の評価] [tech./dosim.]
  2018 12th International Symposium on Medical Information and Communication Technology (ISMICT), Sydney, NSW, Australia. IEEE: pp. 1-3; ISBN 978-1-5386-3390-8
• 2018, Lin JC
  [詳細] [通信の健康と安全：若年者の携帯電話RF／マイクロ波ばく露と記憶遂行能力スコア] [review]
  Radio Science Bulletin 366: 32-35
• 2018, Blumberger DM, Vila-Rodriguez F, Thorpe KE, Feffer K, Noda Y, Giacobbe P, Knyahnytska Y, Kennedy SH, Lam RW, Daskalakis ZJ, Downar J
  [抑うつ患者におけるシータバーストvs.高頻度反復的経頭蓋磁気刺激の効果（THREE-D）：無作為化非劣性試験] [med. app.]
  Lancet 391 (10131): 1683-1692
• 2018, Kim JH, Kim H, Nam S
  [時間反転ワイヤレス電力伝送システムにおけるヒトのファントムモデルに対する電磁界ばく露] [tech./dosim.]
  2018 International Symposium on Antennas and Propagation (ISAP), Busan, Korea (South). IEEE: pp. 1-2; ISBN 978-1-5386-5389-0
• 2018, Hirata A
  [6 GHz超の無線周波ばく露に対するヒトのドシメトリについてのレビュー‐国際的なばく露基準] [misc.]
  2018 Asia-Pacific Microwave Conference (APMC), Kyoto, Japan. IEEE: pp. 681-683; ISBN 978-1-5386-2184-4
• 2018, Ibrani M, Halili R, Ahma L, Hamiti E, Fejza N, Berisha D
  [屋内環境でのWi-Fi信号レベルの実験的評価] [tech./dosim.]
  2018 18th Mediterranean Microwave Symposium (MMS), Istanbul, Turkey. IEEE: pp. 307-312; ISBN 978-1-5386-7133-7