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4838件の論文が見つかりました。

キーワード: 吸収, Absorption

• 2023, Bačová F, Beňová M
  [鉄道客車の遮へい空間内での子どもおよび成人の10 gおよび1 gの比吸収率の比較] [tech./dosim.]
  2023 24th International Conference on Computational Problems of Electrical Engineering (CPEE), Grybów, Poland. IEEE: pp. 1-4; ISBN 9798350330359
• 2023, Govindan T, Palaniswamy SK, Kanagasabai M, Kumar S, Agarwal R, Kumar R, Panigrahy D
  [畜産用ワイヤレスカプセル内視鏡用のコンフォーマルMIMO摂取型ボーラスセンサーアンテナの設計および解析] [tech./dosim.]
  IEEE Sens J 23 (22): 28150-28158
• 2023, Gombarska D, Smetana M, Psenakova Z, Boleckova S
  [男性の泌尿生殖系と高周波電磁界との相互作用のモデリングおよびシミュレーション] [tech./dosim.]
  2023 24th International Conference on Computational Problems of Electrical Engineering (CPEE), Grybów, Poland. IEEE: pp. 1-4; ISBN 9798350330359
• 2023, Bodin R, Seewooruttun C, Corona A, Delanaud S, Pelletier A, Villégier AS
  [幼若ラットの行動における周産期の5G電磁界ばく露の性別依存的インパクト] [med./bio.]
  Environ Sci Pollut Res 30 (53): 113704-113717
• 2023, Fang Y, Liu Y, Zhu JQ, Jia Y
  [低SARのブロードバンドモバイル通信用マルチモード統合MIMOアンテナの設計] [tech./dosim.]
  2023 International Conference on Microwave and Millimeter Wave Technology (ICMMT), Qingdao, China. IEEE: pp. 1-3; ISBN 9798350338881
• 2023, Li K, Hikage T, Masuda H, Ijima E, Nagai A, Taguchi K
  [実際のラットの正確な皮膚の厚さに基づくミリ波ドシメトリに対するパラメータのばらつきの影響] [tech./dosim.]
  Sci Rep 13: 17397
• 2023, Orlacchio R, Kolosnjaj-Tabi J, Mattei N, Lévêque P, Rols MP, Arnaud-Cormos D, Golzio M
  [多細胞球状腫瘍モデルに対するナノ秒パルス電界（nsPEF）の影響：パルス持続時間、パルス繰り返し数、吸収エネルギー、および温度の影響] [med./bio.]
  Int J Mol Sci 24 (19): 14999
• 2023, Yang L, Wang B, Li Y
  [5.8 GHz WBANアプリケーション用のパターン再構成可能なアンテナアレイ] [tech./dosim.]
  Front Inform Technol Elect Eng 24 (9): 1357-1365
• 2023, Sharma S, Sharma P, Bahel S, Singh J, Katnoria JK
  [1800 MHz電磁放射にばく露した植物検査システムにおける遺伝毒性作用および抗酸化防御メカニズムの包括的評価：根の染色体異常およびフーリエ変換赤外分光顕微鏡アプローチ] [med./bio.]
  Toxicol Environ Health Sci 15 (4): 385-398
• 2023, Kapetanović A, Poljak D, Dodig H
  [平面でない身体モデルに対するピーク空間平均電力密度の自動検出] [tech./dosim.]
  2023 International Conference on Software, Telecommunications and Computer Networks (SoftCOM), Split, Croatia. IEEE: pp. 1-5; ISBN 9798350301076