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6987件の論文が見つかりました。

キーワード: ウェル, Wells

• 2019, Wischnewski M, Schutter DJLG, Nitsche MA
  [詳細] [皮質脊髄興奮性に対するベータ-tACSの効果：メタ分析] [review]
  Brain Stimul 12 (6): 1381-1389
• 2019, Park JI, Song KH, Jung SY, Ahn J, Hwang SG, Kim J, Kim EH, Song JY
  [Tumor-Treating Fields［腫瘍治療装置の名称］はNK-κB/MAPKシグナル伝達経路を通じてRAW264.7マクロファージの活性化を生じる] [med./bio.]
  Technol Cancer Res Treat 18: 1533033819868225
• 2019, Shimizu Y, Ishii N, Nagaoka T, Wake K, Watanabe S
  [導波管ウェルに注がれた組織等価液体の複素誘電率の測定] [tech./dosim.]
  2019 IEEE Conference on Antenna Measurements & Applications (CAMA), Kuta, Bali, Indonesia. IEEE: pp. 115-117; ISBN 978-1-7281-2397-4
• 2019, Ates K, Ozen S, Carlak HF
  [架空送電線周辺の磁界の有限要素法に基づくシミュレーションとそのドシメトリ解析] [tech./dosim.]
  2019 11th International Conference on Electrical and Electronics Engineering (ELECO), Bursa, Turkey. IEEE: pp. 642-645; ISBN 978-1-7281-2394-3
• 2019, Rabin A, Petrushevskaya A
  [植え込み型統合インプラントのワイヤレス充電デバイスとバイオテレメトリシステムの操作性] [tech./dosim.]
  2019 25th Conference of Open Innovations Association (FRUCT), Helsinki, Finland. IEEE: pp. 257-264; ISBN 978-1-7281-2786-6
• 2019, Kopachka MM, Sharova EV, Aleksandrova EV, Troshina EM, Zaytsev OS, Kravchuk AD, Potapov AA
  [重度の外傷性脳損傷後の神経リハビリテーションにおけるリズミカルな経頭蓋磁気刺激のための効果的なアルゴリズムを求めて] [foreign-language]
  Zh Vopr Neirokhir Im N N Burdenko 83 (6): 111-119
• 2019, Bologna M, Guerra A, Paparella G, Colella D, Borrelli A, Suppa A, Di Lazzaro V, Brown P, Berardelli A
  [経頭蓋交流電流刺激は健康なヒトの運動学習に周波数依存的な影響を及ぼす] [med. app.]
  Neuroscience 411: 130-139
• 2019, He GL, Luo Z, Shen TT, Wang ZZ, Li P, Luo X, Yang J, Tan YL, Wang Y, Gao P, Yang XS
  [TREM2［骨髄細胞2に発現するトリガー受容体］は電磁界ばく露後のPI3K-Akt経路に関与する熱順応誘発ミクログリアM2分極を調節する] [med./bio.]
  Front Cell Neurosci 13: 591
• 2019, Liu Z, Lu M, Wang MS, Liu X, Chen Y, Wan H
  [詳細] [電力周波数磁界にばく露したSDラットの行動学的特徴] [med./bio.]
  2019 IEEE Sustainable Power and Energy Conference (iSPEC), Beijing, China. IEEE: pp. 1042-1048; ISBN 978-1-7281-4931-8
• 2019, Mândrea L, Curta I, Costea M
  [人類に対する低周波電界の影響力] [med./bio.]
  2019 E-Health and Bioengineering Conference (EHB), Iasi, Romania. IEEE: pp. 1-4; ISBN 978-1-7281-2604-3