EMF-Portal | 文献検索結果

2017, Zhang Y, Xu S, Yang L, Xiao G, Zhang S, Gao F, Li Z, Wang M, Song Y, Cai X

[神経刺激装置制御下での神経シグナルの同期検出についての研究] [tech./dosim.]

2017 39th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society (EMBC), Jeju, Korea (South). IEEE: pp. 1126-1129; ISBN 978-1-5090-2810-8

2017, Williams B, Deaton T, Galarneau M, Dye J, Zieber T, Auten J

[米国海兵隊の前線医療施設での「不朽の自由」作戦及び「イラクの自由」作戦遂行中の致命的及び非致命的な感電傷害] [elec. inj.]

Mil Med 182 (9): e2017-e2023

2017, Apanga PA, Azumah JA, Yiranbon JB

[ガーナ農村部での落雷後の火傷の稀な症状：症例報告] [elec. inj.]

J Med Case Rep 11: 200

2017, Zaytseva TN, Kulikov AG, Yarustovskaya OV

[子どもの脊柱側弯症：治療及びリハビリテーションのための新たなアプローチ] [foreign-language]

Vopr Kurortol Fizioter Lech Fiz Kult 94 (4): 43-47

2017, Schmid G, Hirtl R, Schneeweiß P, Jhala T, Sainitzer D

[FV 3609S80002からのRFID技術へのばく露についてのデータの補足分析及び商品監視装置についての調査‐プロジェクト3612S80004] [info]

Federal Office for Radiation Protection (BfS), Ressortforschungsberichte zur kerntechnischen Sicherheit und zum Strahlenschutz, BfS-RESFOR-92/14: 1-114

2017, Zhu B, Zhou J, Gao Y, Shi W, Wei Z, Li W, Wang Y, Chen K

[イン・ビトロでのラットの骨芽細胞の成熟及び石化に対する低周波、低強度の電磁界の影響] [foreign-language]

J Zhejiang Univ (Med Sci) 46 (6): 585-592

2017, Giladi M, Munster M, Schneiderman RS, Voloshin T, Porat Y, Blat R, Zielinska-Chomej K, Hååg P, Bomzon Z, Kirson ED, Weinberg U, Viktorsson K, Lewensohn R, Palti Y

[TTFields［腫瘍治療装置の名称］は神経膠腫細胞の放射線治療後のDNA損傷修復を遅らせる] [med./bio.]

Radiat Oncol 12: 206

2017, Chiaramello E, Fiocchi S, Ravazzani P, Parazzini M

[方向が不確かな50 Hzの一様磁界への子どものばく露の評価のための確率論的ドシメトリ] [tech./dosim.]

Biomed Res Int 2017: 4672124

2017, Pavelek M, Frivaldsky M, Spanik P

[ワイヤレス電力伝送システムの伝送特徴に対する受動的遮へいの影響力] [tech./dosim.]

2017 19th International Conference on Electrical Drives and Power Electronics (EDPE), Dubrovnik, Croatia. IEEE; ISBN 978-1-5386-3381-6

2017, Yavolovskaya E, Willmann B, Gabriadze G, Chiqovani G, Sukhiashvili Z, Iosava S, Svanidze L, Jobava R

[自動車への応用のための低周波人体ばく露の分析] [tech./dosim.]

2017 International Symposium on Electromagnetic Compatibility - EMC EUROPE, Angers. IEEE, Angers, France; ISBN 978-1-5386-0689-6