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キーワード:
"electromagnetic compatibility", "elektromagnetische Verträglichkeit", EMC, EMV, 電磁両立性
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1973,
del Blanco JB, Romero-Sierra C, Tanner JA
1973 IEEE International Electromagnetic Compatibility Symposium Record, New York, NY, USA. IEEE: pp. 1-6; ISBN 978-1-5090-3159-7
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1971 IEEE International Electromagnetic Compatibility Symposium Record, Philadelphia, PA, USA. IEEE: pp. 155-161; ISBN 978-1-5090-3157-3
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1970 IEEE Electromagnetic Compatibility Symposium Record, Anaheim, CA, USA. IEEE: pp. 168-172; ISBN 978-1-5090-3156-6