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846件の論文が見つかりました。

キーワード: "electromagnetic compatibility", "elektromagnetische Verträglichkeit", EMC, EMV, 電磁両立性

• 2002, Fung LC, Leung SW, Chan KH
  An investigation of the SAR reduction methods in mobile phone applications [tech./dosim.]
  2002 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Minneapolis, MN, USA. 2巻; IEEE: pp. 656-661; ISBN 978-0-7803-7264-1
• 2002, Seker SS, Demirbilek BO, Morgul A
  SAR assessment in a human head model exposed to radiation from mobile phone using FEM [tech./dosim.]
  2002 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Minneapolis, MN, USA. 2巻; IEEE: pp. 662-666; ISBN 978-0-7803-7264-1
• 2002, Hedjiedj A, Goeury C, Nadi M
  [低周波電磁干渉への心臓ペースメーカの耐性特性の方法論的アプローチ：50Hz、60Hz、10kHzおよび25kHzでの妨害事例] [dev./impl.]
  J Med Eng Technol 26 (5): 223-227
• 2002, Hirata A, Watanabe H, Shiozawa T
  [斜めに入射した平面波によって誘起される人間の眼のSARと温度上昇] [tech./dosim.]
  IEEE Trans Electromagn Compat 44 (4): 592-594
• 2002, Kanda M, Balzano Q, Russo P, Faraone A, Bit-Babik G
  [835 MHzでダイポールアンテナ電界に曝された人頭模型の電磁エネルギー吸収に及ぼす耳接合モデルの影響] [tech./dosim.]
  IEEE Trans Electromagn Compat 44 (1): 4-10
• 2002, Santomauro M, Da Prato D, Ottaviano L, Borrelli A, Chiariello M
  [［病院内のペースメーカおよび植込み型除細動器により生じる電磁干渉リスクからの保護に関する提言］] [foreign-language]
  Ital Heart J Suppl 3 (4): 440-445
• 2002, Tofani S
  [抗がん活性研究用の電磁界ばく露システム] [tech./dosim.]
  IEEE Trans Electromagn Compat 44 (1): 148-151
• 2002, Altman Z, Begasse B, Dale C, Karwowski A, Wiart J, Wong MF
  [人体ばく露評価のための基地局アンテナの効率的モデル] [tech./dosim.]
  IEEE Trans Electromagn Compat 44 (4): 588-592
• 2001, Bermani E, Caorsi S, Massa A
  Locally-Constrained Inverse Scattering Approach for Electromagnetic Field Prediction [tech./dosim.]
  14th International Zurich Symposium and Technical Exposition on Electromagnetic Compatibility, Zurich, Zurich, Switzerland. IEEE: pp. 1-6; ISBN 978-3-9521199-5-2
• 2001, Achermann P, Graf T, Huber R, Kuster N, Borbély AA
  Effects of Exposure to Pulsed 900 MHz Electromagnetic Fields on Sleep and the Sleep Electroencephalogram [temp.]
  14th International Zurich Symposium and Technical Exposition on Electromagnetic Compatibility, Zurich, Zurich, Switzerland. IEEE: p. 1; ISBN 978-3-9521199-5-2