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8817件の論文が見つかりました。

キーワード: "electric field", "Elektrisches Feld", EF, 電界

• 2023, Czerwonky DM, Aberra AS, Gomez LJ
  [電磁界への細胞性応答を予測するための双領域モデリングの境界要素法] [tech./dosim.]
  bioRxiv: the Preprint Server for Biology (bioRxiv), 2023.12.15.571917
• 2023, Kaur K, Kaur A
  [皮膚がんの体外マイクロ波ハイパーサーミア用のメタマテリアルベースのAMC支持アルキメデスらせんアンテナ] [tech./dosim.]
  Electromagn Biol Med 42 (4): 163-181
• 2023, Jiang L, Zhang X
  [電気自動車のワイヤレス充電システムにおける電磁放射の安全性に関する研究] [tech./dosim.]
  2023 IEEE 7th International Symposium on Electromagnetic Compatibility (ISEMC), Hangzhou, China. IEEE: pp. 1-4; ISBN 9798350333114
• 2023, Sciurba FC, Dransfield MT, Kim V, Marchetti N, Comellas A, Hogarth DK, Majid A
  [慢性気管支炎に対する気管支リオプラスティ：RheOxを用いた米国の実現性研究からの2年間の結果] [med. app.]
  BMJ Open Respir Res 10 (1): e001710
• 2023, Al Salameh MSH, Al-Zughool MR
  [高圧直流海底ケーブルの電界についての解析的解法] [tech./dosim.]
  2023 24th International Conference on Applied Electromagnetics and Communications (ICECOM), Dubrovnik, Croatia. IEEE: pp. 1-4; ISBN 9798350313024
• 2023, Šarolić A, Perić M, Kulić D, Sapunar D
  [中間周波帯域における電磁界ばく露による神経調整] [tech./dosim.]
  2023 24th International Conference on Applied Electromagnetics and Communications (ICECOM), Dubrovnik, Croatia. IEEE: pp. 1-4; ISBN 9798350313024
• 2023, Zentner R
  [標準化された3軸電磁界測定における等方性の課題] [tech./dosim.]
  2023 24th International Conference on Applied Electromagnetics and Communications (ICECOM), Dubrovnik, Croatia. IEEE: pp. 1-6; ISBN 9798350313024
• 2023, Dongge Z, Rui M, Li H, Jiangbo S, Jizhong F
  [ビッグデータを基にした電磁環境の知的解析技術] [tech./dosim.]
  2023 IEEE 5th International Conference on Civil Aviation Safety and Information Technology (ICCASIT), Dali, China. IEEE: pp. 1297-1303; ISBN 9798350310610
• 2023, Moqadam AN, Kazemi R
  [双極化RISとSRRアレイアンテナを利用した新しいマイクロ波トランシーバーセンサーを用いた狭い骨折の高解像度画像化] [tech./dosim.]
  IEEE Sens J 23 (24): 30335-30344
• 2023, Dolciotti N, Colella M, D’Agostino S, Apollonio F, Liberti M
  [女性の胸部と2.45 GHzばく露の高度なコンピュータモデリング] [tech./dosim.]
  2023 IEEE Conference on Antenna Measurements and Applications (CAMA), Genoa, Italy. IEEE: pp. 1057-1060; ISBN 9798350323054