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キーワード: "electric current", "elektrische Stromstärke", "Elektrischer Strom", Strom, current, 電流

• 2022, Cappucci U, Casale AM, Proietti M, Marinelli F, Giuliani L, Piacentini L
  [WiFi関連の高周波電磁界はキイロショウジョウバエにおける転移因子の調節不全とゲノム不安定性を促進する] [med./bio.]
  Cells 11 (24): 4036
• 2022, Qu X, Wang Z, Cheng Y, Xue Q, Li Z, Li L, Feng L, Hartwigsen G, Chen L
  [健康な参加者の言語パフォーマンスに対する経頭蓋磁気刺激の神経調節効果：系統的レビューおよびメタ分析] [review]
  Front Hum Neurosci 16: 1027446
• 2022, Webler RD, Oathes DJ, van Rooij SJH, Gewirtz JC, Nahas Z, Lissek SM, Widge AS
  [脱分極脳刺激法によるヒトの脅威の絶滅に関連する回路の因果的マッピング] [review]
  Neurosci Biobehav Rev 144: 105005
• 2022, Zhao Z, Chen Y, Wu B, Qiu G, Hong L, Chen X, Zhang X
  Pulsed-Field Ablation Using a Novel Ablation-Mapping Integrated System for Pulmonary Vein Isolation-A Preliminary Animal Study [med./bio.]
  J Cardiovasc Dev Dis 9 (12): 425
• 2022, González-Suárez A, Pérez JJ, O'Brien B, Elahi A
  [心外膜パルス電界アブレーション中に金属冠動脈内ステントによって生じる電気的および熱的障害の評価のためのイン・シリコ・モデリング] [dev./impl.]
  J Cardiovasc Dev Dis 9 (12): 458
• 2022, Cordani C, Battel I, Del Furia MJ, Lazzarini SG, Negrini S, Arienti C
  [嚥下障害、発声障害および嗅覚疾患：COVID-19罹患後症状を呈する人々のリハビリテーションに関連するCochraneエビデンスのマップ] [review]
  Eur J Phys Rehabil Med 58 (6): 875-879
• 2022, Sun W, Song J, Dong X, Kang X, He B, Zhao W, Li Z, Feng Z, Chen X
  [CiteSpace を介した2000年から2022年までのWeb of Scienceデータベースにおける経頭蓋直流電流刺激の計量的および視覚的分析] [review]
  Front Hum Neurosci 16: 1049572
• 2022, Hannig M, Brocke R
  [落雷事故の事例における許容接触電圧の数値シミュレーション] [tech./dosim.]
  2022 36th International Conference on Lightning Protection (ICLP), Cape Town, South Africa. IEEE: pp. 583-588; ISBN 978-1-6654-9025-2
• 2022, Nourredine T, Rabah D, Abdechafik H
  [高圧架空電力線から空中金属パイプラインに対する誘導結合のモデリング] [tech./dosim.]
  2022 19th International Multi-Conference on Systems, Signals & Devices (SSD), Sétif, Algeria. IEEE: pp. 1813-1819; ISBN 978-1-6654-7109-1
• 2022, Cao B, He X, Lu J, Yu Z, Qi D, Li B
  [大電流ケーブルの磁界特性の分析] [tech./dosim.]
  2022 IEEE 10th International Conference on Computer Science and Network Technology (ICCSNT), Dalian, China. IEEE: pp. 155-157; ISBN 978-1-6654-7062-9