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キーワード: "T wave", T-Welle, T-Zacke, T波

• 2024, Pitron V, Haanes JV, Hillert L, Köteles FG, Léger D, Lemogne C, Nordin S, Szemerszky R, van Kamp I, van Thriel C, Witthöft M, Van den Bergh O
  [正誤表「電磁過敏症は常に現実である」[Environ. Res. 218 (Feb 2023) 114840]] [erratum]
  Environ Res 251 Pt 1: 118546
• 2024, Ye H, Dima M, Hall V, Hendee J
  [磁気刺激後のキャリーオーバー効果の基礎となる細胞メカニズム] [tech./dosim.]
  Sci Rep 14: 5167
• 2024, Competence Centre Electromagnetic Fields (KEMF)
  [Pinto他、International Journal of Environmental Research and Public Health (2023)「高周波（100 kHz-300 GHz）電磁界ばく露とがんについてのイン・ビボ研究：系統的レビュー」にスポットライトを当てる] [comment]
  Federal Office for Radiation Protection (BfS) (ed.), Spotlight, Feb/2024 no.1: 1-6
• 2024, Competence Centre Electromagnetic Fields (KEMF)
  [Joushomme他、Scientific Reports (2023) 「生きた線維芽細胞およびケラチノサイト細胞における HSF1、RAS、ERK、および PML活性化に対する5G変調 3.5 GHz高周波界ばく露の影響」にスポットライトを当てる] [comment]
  Federal Office for Radiation Protection (BfS) (ed.), Spotlight, Jan/2024 no.4: 1-6
• 2024, Ilić AŽ, Trajković JZ, Savić SV, Ilić MM
  [ミリ波周波数でのOAM電磁波組織照射の調査] [tech./dosim.]
  Appl Radiat Isot 207: 111261
• 2024, Competence Centre Electromagnetic Fields (KEMF)
  [J. Moon、Environmental Research (2023)「携帯電話からの高周波電磁放射と脳腫瘍との関連：韓国における脳腫瘍発生率の傾向」にスポットライトを当てる] [comment]
  Federal Office for Radiation Protection (BfS) (ed.), Spotlight, Jan/2024 no.1: 1-4
• 2024, Competence Centre Electromagnetic Fields (KEMF)
  [Malagoli他、Environmental Research (2023) 「高圧電力線からの磁界への居住環境ばく露と小児白血病のリスク」にスポットライトを当てる] [comment]
  Federal Office for Radiation Protection (BfS) (ed.), Spotlight, Jan/2024 no.2: 1-8
• 2024, Tuppurainen H, Määttä S, Könönen M, Julkunen P, Kautiainen H, Hyvärinen S, Vaurio O, Joensuu M, Vanhanen M, Aho-Mustonen K, Mervaala E, Tiihonen J
  [治療抵抗性の統合失調症の男性患者におけるナビゲーションおよび個別のαピーク周波数ガイド付き経頭蓋磁気刺激] [med. app.]
  J Psychiatry Neurosci 49 (2): E87-E95
• 2024, Qi S, Liu X, Yu J, Liang Z, Liu Y, Wang X
  [時間的干渉電界脳刺激はマウスの主要運動皮質において神経可塑性を増強することで運動技能を促進する] [med./bio.]
  Brain Stimul 17 (2): 245-257
• 2024
  [人体セキュリティスクリーニング用の活性ミリ波システムの画像撮影性能の測定のためのIEEEドラフト規格] [temp.]
  Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), PN42.59/D9.9, May 2024: 1-109, ISBN 9798855708783