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キーワード: "Institute of Electrical and Electronics Engineers", IEEE, 米国電気電子学会

• 2014, Kim HS, Lee YH, Choi HD, Lee AK, Lee YS, Pack JK, Kim N, Ahn YH
  [ラットの体温の変化に対する915MHzのRFIDへのばく露の影響] [med./bio.]
  2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Tokyo, Japan. IEEE: pp. 170-173; ISBN 978-4-88552-287-1
• 2014, Suzuki Y, Koike A, Takamura M, Taki M, Kojima M, Sasaki K, Chakarothai J, Wake K, Watanabe S
  [ミリ波にばく露したウサギの眼に関する計算ドシメトリのためのグラフィック処理ユニットの高速化] [tech./dosim.]
  2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Tokyo, Japan. IEEE: pp. 832-835; ISBN 978-4-88552-287-1
• 2014, Neufeld E, Kuster N
  [インプラントの電磁界ばく露の安全性に係わるインビボでの影響のモデル化のためのプラットフォーム] [tech./dosim.]
  2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Tokyo, Japan. IEEE: pp. 230-233; ISBN 978-4-88552-287-1
• 2014, Laakso I, Shimamoto T, Hirata A, Feliziani M
  [無線電力伝送のばく露評価への準静的近似の適用可能性] [tech./dosim.]
  2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Tokyo, Japan. IEEE: pp. 430-433; ISBN 978-4-88552-287-1
• 2014, Kang WG, Alexander Z, Jun HY, Park YH, Pack JK
  [無線式のマルチ–電話充電器に関するばく露評価] [tech./dosim.]
  2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Tokyo, Japan. IEEE: pp. 198-201; ISBN 978-4-88552-287-1
• 2014, Sato K, Kamimura Y
  [IH調理器のばく露レベルの測定に関する研究] [tech./dosim.]
  2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Tokyo, Japan. IEEE: pp. 194-197; ISBN 978-4-88552-287-1
• 2014, Iwamoto T, Arima T, Uno T, Iwamoto T, Wake K, Fujii K, Watanabe S
  [人体ばく露評価を目的とした無線電力伝送システム近傍の電磁界の測定] [tech./dosim.]
  2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Tokyo, Japan. IEEE: pp. 529-532; ISBN 978-4-88552-287-1
• 2014, Shimizu HO, Shimizu K
  [ELF電界ばく露における体毛の動きの分析：知覚閾値の季節変動のメカニズムについて] [med./bio.]
  2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Tokyo, Japan. IEEE: pp. 162-165; ISBN 978-4-88552-287-1
• 2014, Higashiyama J, Tarusawa Y
  [携帯電話基地局が存在する環境での人体ばく露を評価するための電界測定器の設計] [tech./dosim.]
  2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Tokyo, Japan. IEEE: pp. 650-653; ISBN 978-4-88552-287-1
• 2014, Chia BHK
  [電線の設計と性能にマレーシアのEMF基準が及ぼすインパクト] [tech./dosim.]
  2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Tokyo, Japan. IEEE: pp. 625-628; ISBN 978-4-88552-287-1