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キーワード: "Elektrisches Feld", EF, "electric field", 電界

• 2021, Jiang W, Isenhart R, Kistler N, Lu Z, Xu H, Lee DJ, Liu CY, Song D
  [低強度の反復的経頭蓋磁気刺激はラット皮質における自発的スパイク活動を調節する] [med. app.]
  2021 43rd Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine & Biology Society (EMBC), Mexico. IEEE: pp. 6318-6321; ISBN 978-1-7281-1179-7
• 2021, Zaidi TA, Makarov SN, Fujimoto K
  [さまざまなニューロイメージングセグメンテーション法を使用したTMSの電界比較] [tech./dosim.]
  2021 43rd Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine & Biology Society (EMBC), Mexico. IEEE: pp. 6565-6568; ISBN 978-1-7281-1179-7
• 2021, Asbeck P, Alluri S, Leung V, Stambaugh M, Abbasi S, Makale M
  [反復的経頭蓋磁気刺激法（rTMS）で電界強度を高めるためのコンパクトな回路] [tech./dosim.]
  2021 43rd Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine & Biology Society (EMBC), Mexico. IEEE: pp. 6458-6464; ISBN 978-1-7281-1180-3
• 2021, Derat B, Celik M, Colombi D, Xu B, Törnevik C, Schaefer D, Simon W
  [無線測定と全波電磁シミュレーションの組み合わせに基づく基地局の比吸収率の評価] [tech./dosim.]
  2021 Antenna Measurement Techniques Association Symposium (AMTA), Daytona Beach, FL, USA. IEEE: pp. 1-6; ISBN 978-1-6654-4515-3
• 2021, Torchio R, Arduino A, Zilberti L, Bottauscio O
  [生物医学アプリケーションで低周波電磁界にばく露された人体のパラメトリック分析のための高速ツール] [tech./dosim.]
  Comput Methods Programs Biomed 214: 106543
• 2021, Rad I, Stahlberg R, Kung K, Pollack GH
  [低周波の弱電界は水の構造変化を生じ得る] [med./bio.]
  PLoS One 16 (12): e0260967
• 2021, Fernández-Rodríguez C, Grubisic S, Soares N, Bulla G, de Salles AA
  [ドライブテスト電界測定のシミュレーション] [tech./dosim.]
  2021 SBMO/IEEE MTT-S International Microwave and Optoelectronics Conference (IMOC), Fortaleza, Brazil. IEEE: pp. 1-3; ISBN 978-1-6654-4016-5
• 2021, Jones TH, Song JW, Abushahin L
  [腫瘍治療電界療法：胸腔がんおよび腹腔がんの新たな治療法] [review]
  Transl Oncol 15 (1): 101296
• 2021, Welles TS, Ahn J
  [機械的摩耗なしに振動電界を介して注入されたCoCrMo金属の電気化学的腐食を促進する] [dev./impl.]
  Sci Rep 11: 22366
• 2021, Wang D, Dannhauer M, Yucel AC, Gomez LJ
  [電界ガイド式非侵襲的磁気脳刺激のための適応交差近似] [tech./dosim.]
  2021 International Applied Computational Electromagnetics Society Symposium (ACES), Hamilton, ON, Canada. IEEE: pp. 1-3; ISBN 978-1-6654-3447-8