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キーワード: "Elektrische Spannung", Spannung, "electric voltage", voltage, 電圧

• 2024, Petzold J, Schmitter S, Silemek B, Winter L, Speck O, Ittermann B, Seifert F
  [0.5 T、1.5 T、3 T並列伝送心臓画像撮影のための代替RF電力制限制御方法の調査：シミュレーション研究] [tech./dosim.]
  Magn Reson Med 91 (4): 1659-1675
• 2024, Liu W, Rao X, Chen X, Yu L
  [ヒト頭部用パッチアンテナのマルチフィジックスシミュレーション] [tech./dosim.]
  2024 IEEE 12th Asia-Pacific Conference on Antennas and Propagation (APCAP), Nanjing, China. IEEE: pp. 1-2; ISBN 9798350351026
• 2024, Cag Y, Kole MT, Erdem A, Pismisoglu K, Yukselmis U, Cicek F, Dereli M, Esen F, Akin Y
  [イスタンブールの三次市立病院における小児の電撃傷の疫学：5年間の経験] [elec. inj.]
  Ann Clin Anal Med 15 (11): 763-767
• 2024, Wu K, Li Q, Han X
  [同一鉄塔内二回線送電線の単サイクル活線運用の最適化に関する研究] [tech./dosim.]
  2024 8th International Conference on Electrical, Mechanical and Computer Engineering (ICEMCE), Xi'an, China. IEEE: pp. 610-614; ISBN 9798331506247
• 2024, Burmistrov OI, Olekhno NA
  Wireless power transfer in magnetic resonance imaging with a detuned birdcage coil [tech./dosim.]
  St Petersbg State Polytech Univ J Phys Math 17 (3.1): 354-357
• 2024, Shaalan EMA, Abbas Elghalbanoud MA, Hamza ASH
  [フィードフォワードとラジアル基本関数のハイブリッドニューラルネットワークによる架空送電線のAC電力による金属パイプラインの誘導電圧の予測] [tech./dosim.]
  2024 25th International Middle East Power System Conference (MEPCON), Cairo, Egypt. IEEE: pp. 1-9; ISBN 9798350379655
• 2024, Alameddine S, Khan N, Purohit SA, Bhambri A, Nerella R
  [複雑な外傷および火傷の多科的治療：困難な臨床シナリオの症例シリーズ] [elec. inj.]
  Cureus 16 (12): e76446
• 2024, Tan X, Guo A, Tian J, Li Y, Shi J
  [低消費電力、低ノイズの経頭蓋磁気刺激のための新しいパルス電流波形回路] [temp.]
  Front Neurosci 18: 1500619
• 2024, Yang J, Li B, Jing F, Li X, Zhang Y
  [3DEプラットフォームに基づく電気工学における誘導電圧の計算] [tech./dosim.]
  2024 3rd International Conference on Data Analytics, Computing and Artificial Intelligence (ICDACAI), Zakopane, Poland. IEEE: pp. 993-998; ISBN 9798331519049
• 2024, Anagha ER, Bahirat HJ
  [高圧送電線が近隣の住宅に及ぼす影響] [tech./dosim.]
  2024 IEEE 7th International Conference on Condition Assessment Techniques in Electrical Systems (CATCON), Kolkata, India. IEEE: pp. 82-86; ISBN 9798331507770