[統計的手法は活性化閾値をシミュレートする際にニューロン周囲の微視的電界歪みを考慮する] tech./dosim.

Statistical method accounts for microscopic electric field distortions around neurons when simulating activation thresholds

著者: Weise K, Makaroff SN, Numssen O, Bikson M, Knösche TR
掲載誌: Brain Stimul 2025 [in press]
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