[頭囲での経頭蓋電気刺激中に個別に誘発された電界強度の推定] tech./dosim.

Estimation of individually induced e-field strength during transcranial electric stimulation using the head circumference

著者: Antonenko D, Grittner U, Puonti O, Flöel A, Thielscher A
掲載誌: Brain Stimul 2021; 14 (5): 1055-1058
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