[電磁界を原因と考える本態性環境不耐性の研究における共同設計されたばく露プロトコル] tech./dosim.

Co-Designed Exposure Protocol in the Study of Idiopathic Environmental Intolerance Attributed to Electromagnetic Fields

著者: Ledent M, Vatovez B, Pirard W, Bordarie J, Prignot N, Oftedal G, Geuzaine C, Beauvois V, Bouland C, Verschaeve L, Dieudonné M
掲載誌: Bioelectromagnetics 2020; 41 (6): 425-437
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電磁界を原因と考える本態性環境不耐症（IEI-EMF）が電磁界によって生じるという仮説は、IEI-EMFの人々を実験室環境において特定の電磁界にばく露し、その反応を観察する誘発研究で広く調査されてきた。そうした研究の大多数では、ばく露とは独立した反応が認められているが、それらの研究の大半には研究デザインおよび方法論における限界があり、その知見にバイアスを生じたか、その精度を低下させた可能性がある。この論文の著者らが実施するExpoCommプロジェクトには、プロトコルの開発にIEI-EMFの人々を関与させること、検査に対する不安の低減、プロトコルの個人化、試験前の中立的または自然の反応性状態の検証、ならびに人工的なものではなく実際の発生源を用いること、といった複数のイノベーションが導入されている。IEI-EMFの人々を関与させることの目的は、技術的制約および科学的な品質要件を尊重しつつ、プロトコルの関連性および受容性を高めることである、と著者らは論じている。

ばく露