この研究は、電磁過敏症(EHS)の成人自訴患者10人について、通常の磁気共鳴画像撮影(MRI)および機能的MRI(fMRI)による脳スキャンを実施した。その結果、10人全員にfMRI脳スキャンで異常が認められた。著者らは、患者の多くには頭部傷害や神経毒性のある化学物質へのばく露の履歴があり、これらによって患者がEHSを発症しやすくなったかも知れない、と結論付けている。
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