[開頭術中の経頭蓋電気刺激で誘発される電界の有限要素法による可視化] tech./dosim.

Visualization of the electric field evoked by transcranial electric stimulation during a craniotomy using the finite element method

著者: Tomio R, Akiyama T, Horikoshi T, Ohira T, Yoshida K
掲載誌: J Neurosci Methods 2015; 256: 157-167
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この研究は、前側頭開頭術中の経頭蓋電気刺激による運動誘発電位（tMEP）に対する頭蓋変形および脳脊髄液（CSF）の影響を検討するため、電気刺激により生じる脳内電界を有限要素法で可視化した。3種類の脳モデル、5種類の開頭術モデルを対象とした。その結果、脳内の電界強度はCSF層の厚さおよび体積の変化の影響を最も強く受ける､と報告している。

ばく露