[電磁過敏症はノセボ反応に由来するか？：質的研究からの示唆] tech./dosim.

この研究は、電磁界を原因と信じる特発性環境不耐症（IEI-EMF）、いわゆる電磁過敏症（EHS）の人々では、誘発試験での症状申告が真のばく露後に比べ、認知されたばく露後に多いとの研究結果が繰り返し報告されていることを踏まえて提出された仮説「IEI-EMFは心理学的メカニズム、特にノセボ反応に由来する」を検討した。EHSと自己診断している人（n=44）にインタビューを行い、彼らの話からその人のアトリビューション過程（原因と思われるものに到達する過程）の典型モデルを帰納的に練り上げた。その結果、線形で7段階から成るモデルが得られた：(1) 症状の開始、(2) 解決策が見いだせない、(3) EHSを初めて知る、(4) EHSに関する情報の収集、(5) 確信の潜在的出現、 (6) 実験的な作業、(7) 確信の意識的受容；概して自身の健康に対するEMFの影響を疑い始める前に症状の出現があることは、IEI-EMFは認知されたばく露へのノセボ反応に由来するという仮説と一致しない；しかし、ノセボ反応は第6段階で起き、これがアトリビューションを強化するのかも知れない、と報告している。