[LTE端末のSAR値分析] tech./dosim.

The SAR value analysis of LTE terminals

著者: Shi D, Gao Y, Du X
掲載誌: International Symposium on Electromagnetic Compatibility - EMC EUROPE, Rome, 2012. IEEE, 2012: 1-4; ISBN 978-1-4673-0717-8
RISフォーマットで参考文献をダウンロード

ばく露