[環境制御型走査電子顕微鏡およびエネルギー分散型X線マイクロアナライザを用いた電流痕の調査] foreign-language

[Study on electrical current mark with environmental scanning electron microscopy and energy dispersive X-ray microanalyser]

著者: Liu D, Wang H, Li SX, Ma XT, Duan YJ, Zhou HY, Zhou YW

掲載誌: Fa Yi Xue Za Zhi 2010; 26 (6): 421-424

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