この論文は、体内植込み式神経刺激装置とセキュリティシステム、金属探知器、無線装置等々との間の電磁干渉（EMI）に関する懸念に体系的に取り組むために、磁気結合によるEMIの評価用試験プラットフォームを開発し、それを用いた評価結果を示している。懸念が報告されていた低周波RFIDにより刺激装置のリード線内に誘導される電流は電気刺激機能に注目すべき影響を与えることはなかったと報告している。今回の試験法は、刺激装置の製造業者が設計および試験段階で利用できるものであることを実証したと結論している。
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