By:
De Miguel-Bilbao S, Hernandez JA, Suarez OJ, Marina P, Febles VM, Rabassa LE, Suarez S, Karpowicz J, Zradzinski P, Gryz K, Aguirre E, Ramos V
Published in: 2021 IEEE International Joint EMC/SI/PI and EMC Europe Symposium, Raleigh, NC, USA. IEEE, 2021: pp. 13-18; ISBN 978-1-6654-4889-5
